首页 热点资讯 义务教育 高等教育 出国留学 考研考公
您的当前位置:首页正文

一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术[发明专利]

2023-02-02 来源:华拓网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射

成像技术

专利类型:发明专利发明人:徐敏

申请号:CN201510666945.1申请日:20151015公开号:CN105300928A公开日:20160203

摘要:本发明提供一种大面积获取组织光学参数及微观结构的光反射成像技术,包括在任意空间距离和在整个空间频率域中均适用的浑浊介质反射率计算方法,以及一种通过测量高和低空间频率浑浊介质反射,并以得到的光反射率反演得出介质光学参数的方法。反演方法可以是运用查表法或者公式拟合法。浑浊介质sub-扩散和漫射光反射率的测量可用于大面积测定混浊介质的光学特性及包括相位函数等的微观结构。

申请人:温州医科大学

地址:325000 浙江省温州市瓯海经济开发区东方南路38号006信箱

国籍:CN

代理机构:温州金瓯专利事务所(普通合伙)

代理人:林益建

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容