专利名称：集成电路测试仪的数字波形测试系统及产生方法专利类型：发明专利发明人：钟景华,宋秀良申请号：CN201711456997.1申请日：20171228公开号：CN108181575A公开日：20180619
摘要：本发明公开了一种集成电路测试仪的数字波形测试系统及产生方法，读取数据产生命令发给驱动芯片；据设置的发送器速率及位宽设置向量波形生成模块、开关信息生成模块内FIFO的位宽N及深度；设置的速率Rate决定波形数据、及开关数据的分辨率为1/Rate，一个N位宽的数据则代表N/Rate时间长度的数据，读取周期T及边沿定位信息D1、D2，将一个周期数据分为T*Rate/N个数据顺序存入波形数据；发送器速率及位宽设置相同，读取周期及边沿定位信息D0、D3，将一个周期的开关信息分为T*Rate/N个数据顺序存入开关数据；写入FIFO的同时，按流水线操作读取波形及开关数据，并通过发送器发给驱动数据。
申请人：南京国睿安泰信科技股份有限公司
地址：210013 江苏省南京市鼓楼区古平岗4号
国籍：CN
代理机构：南京知识律师事务所
代理人：高娇阳
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