专利名称：集成光源测量装置专利类型：发明专利发明人：金载乙
申请号：CN200910266138.5申请日：20091230公开号：CN101769820A公开日：20100707
摘要：本发明提供一种集成光源测量装置，能够快速测量光度，能防止在测量集成光源时产生的边缘现象。本发明的集成光源测量装置包括：格子形遮光板，在与LED模块内的各LED相同的位置形成有相同形态及数量的通孔，包围所述各LED侧壁；导光板，在与所述格子形遮光板的通孔相同的位置具有相同数量的通孔，使从所述各LED产生且通过了所述格子形遮光板的光在前进时不从侧面漏出；分光滤波器，降低从所述各LED产生的光的灰度；红外线截止滤波器，截止通过所述分光滤波器的光中所包含的红外线；以及传感器模块，在与所述各LED的位置对应的位置排列有多个光传感器。
申请人：株式会社大韩电光
地址：韩国首尔市
国籍：KR
代理机构：北京市京大律师事务所
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容