专利名称：电子元件及其电测试方法专利类型：发明专利发明人：张智盈,饶瑞修申请号：CN201811392233.5申请日：20181121公开号：CN109860149A公开日：20190607
摘要：本公开提供一种电子元件及其电测试方法，电子元件包括：一基底；设置在该基底上方的一电子构件；以及设置在该基底上方的一电测试构件。该电子构件包括该基底上方的一底板和该底板上方的一顶板。该电测试构件包括一第一反熔丝结构及一第二反熔丝结构，其中该第一反熔丝结构及该第二反熔丝结构电连接至该底板。
申请人：南亚科技股份有限公司
地址：中国台湾新北市
国籍：TW
代理机构：隆天知识产权代理有限公司
代理人：黄艳
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