（12）实用新型专利
（21）申请号 CN201721148300.X （22）申请日 2017.09.07
（71）申请人 北京邦鑫伟业技术开发有限公司
地址 102200 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区
（10）申请公布号 CN207133210U
（43）申请公布日 2018.03.23
（72）发明人 吴娜
（74）专利代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 黄德海
（51）Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
（54）发明名称
具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪
（57）摘要
本实用新型公开一种具有叠片式准直器的
X荧光光谱分析仪，包括X射线发生装置、真空测量室及固定元素道分光器。固定元素道分光器包括入射狭缝管组件、分光盒组件和出射狭缝管组件。入射狭缝管组件包括入射通道管体、一级准直器及入射狭缝宽度调节结构；出射狭缝管组件包括出射通道管体、二级准直器及出射狭缝宽度调节结构；一级准直器和二级准直器中的至少一个准直器包括准直组件、压块和光栏。准直组
件包括多个间隔块和多个金属片，间隔块和金属片交错层叠设置；压块压紧准直组件的一侧，以使准直组件固定在入射通道管体和出射通道管体的至少一个通道管体上；光栏设置在至少一个准直器的尾端部。如此，可降低能量的损耗，装配简单。
法律状态
法律状态公告日2018-03-23
法律状态信息
授权
法律状态
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权利要求说明书
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说明书
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